J-TEXT学术报告第34期

报告人： 陈忠勇（HUST）

时 间： 2015年12月11日（周五）14:30

地 点： 二楼会议室

题 目1： Enhancement of runaway production by resonant magnetic perturbation on J-TEXT

摘要：

外部扰动场具有增强逃逸电子径向输运，抑制逃逸电子产生的作用。TEXTOR以及JT-60U装置成功利用外部共振磁扰动抑制了等离子体破裂下逃逸电子的产生。由于ITER上逃逸电流的抑制仍然是一个未解决的问题，共振磁扰动作为抑制逃逸电子的手段期望能应用到ITER上逃逸电子的抑制。最近J-TEXT上的实验结果表明较强的共振磁扰动反而会引起逃逸增强，这对今后ITER上的逃逸电子抑制提出了新的挑战。

题 目2： Study of disruption generated runaway electrons on J-TEXT

摘要：

分析逃逸电子的产生区间以及破裂后逃逸束的特征对研究逃逸电子抑制具有指导作用。我们在J-TEXT装置上利用大量气体注入快阀系统注入He、Ne、Ar以及混合气体，研究了逃逸电流的产生区间，逃逸电子的能量、逃逸束的能量与逃逸电流转化比之间的关系，并利用SXR成像研究了逃逸束的特征。

在逃逸电流平台期间利用外加磁扰动尝试耗散逃逸电子。由于高能逃逸电子具有较大的漂移轨道，磁扰动对其输运影响可忽略，因此逃逸电流平台期间外加磁扰动不能有效耗散逃逸电子。

欢迎感兴趣的老师和同学参加！